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變頻介質損耗測試儀參數(shù)是發(fā)電廠、變電站等現(xiàn)場或實驗室測試各種高壓電力設備介損正切值及電容量測試儀器。儀器為一體化結構，內置介損測試電橋，可變頻調壓電源，升壓變壓器和SF6 高穩(wěn)定度標準電容器。測試高壓源由儀器內部的逆變器產(chǎn)生，

智能介質損耗測試儀參數(shù)，數(shù)據(jù)采集電路全部采用高壓穩(wěn)定器件，采集板和采集計算機被鐵盒*浮空屏蔽，儀器外殼接地屏蔽；另外使用了光導數(shù)據(jù)、浮空地、大面積地、單點地、數(shù)字濾波等抗干擾技術，加之計算機對數(shù)百個電網(wǎng)周期的數(shù)據(jù)進行處理，使測量結果穩(wěn)定、精確、可靠。

變頻抗干擾介質損耗測試儀原理，測量過程由微處理器控制，只要選擇好合適的測量方式，數(shù)據(jù)的測量就可在微處理器控制下自動完成； 一體化機型，內附標準電容和高壓電源，便于現(xiàn)場測試，減少現(xiàn)場接線。

異頻介質損耗測試儀參數(shù)，測量過程由微處理器控制，只要選擇好合適的測量方式，數(shù)據(jù)的測量就可在微處理器控制下自動完成； 一體化機型，內附標準電容和高壓電源，便于現(xiàn)場測試，減少現(xiàn)場接線。

介質損耗測試儀參數(shù)是一種先進的測量介質損耗（tgδ）和電容容量（Cx）的儀器，用于工頻高壓下，測量各種絕緣材料、絕緣套管、電力電纜、電容器、互感器、變壓器等高壓設備的介質損耗（tgδ）和電容容量（Cx）。